A021103，A021104，A021109，A021127

微波器件测试系统1台，可提供一个变温、真空、变磁场的环境，可以配合电压表、电流表、矢量网络分析仪、激光器、铁电仪等设备使用。典型的应用包括样品在整个温度范围内的IV和CV曲线测试，光电测试，表征变磁环境下的磁输运特性和其他材料的研究。利用全面、灵活的单次连接微波测试引擎以提高测试效率；使用广泛的单次连接测量应用软件以缩短测试时间；使用先进的误差校正功能，精确测试线性和非线性器件特征；多点触控屏和直观的用户界面加速对元器件特性的分析；可测量放大器、混频器和频率转换器等有源器件；可测量S参数、噪声系数、增益压缩、互调和谐波失真、转换增益/损耗、真正差分激励、毫米波、天线测试等。频率变化范围从10 MHz 至 67 GHz；具有两个内置信号源，可提供 4 端口 110 GHz 单次扫描解决方案；110 dB 系统动态范围，32001 个点，32 个通道，5 MHz 中频带宽；高输出功率(67 GHz时功率为+10 dBm)和宽功率扫描范围(±20 dBm)，67 GHz、+11 dBm 时，接收机压缩精度为 0.1 dB。配备有1英寸载物台，温度10K到400K，温控分辨率0.1K；带4个探针臂，漏电优于100FA；水平磁场6000高斯，带显微镜和CCD成像系统；带防震系统等。需提供整套说明书，并有专门的工程师负责安装、系统的培训以及后期有可能的维护。合规操作的前提下，年使用时长不得少于2000小时。

蒋长军 15379020369