A021102元件器件参数测量仪

采购标名称：红外焦平面阵列测试系统 主要功能：红外焦平面阵列测试系统可用于制冷型和非制冷行红外焦平面芯片，可实现红外焦平面芯片性能参数的全面精准测量，包括噪声、响应函数、归一化比探测率、大靶标响应特性、图像分辨率、小靶标的响应特性、调制传递函数及像素间串扰问题等关键参数。此外，该系统的表征波长范围应当覆盖近红外至长波红外波段且焦平面阵列最大分辨率不低于1280x1024，能够支撑下一代大阵列、多波段、共工作温度红外探测器的研发。该测试系统应包括FAPA-N、FAPA-I和FAPA-S三个子系统，能够完全覆盖红外焦平面上述性能参数测试的需求，满足国标《红外焦平面阵列参数测试方法（GB/T 17444-2013）》的要求。 采购标的数量：1套 采购标的需满足的质量、服务、安全、时限等要求：质量、安全须遵守国家、四川省及成都市的有关法律、法规及执业规范等，并承担相应的责任，服务、时限等内容满足采购人要求。其中： （1）质保期：本项目质保期为1年，在质保期内如出现非用户人为造成的质量问题，供应商负责免费维修、更换或退货；质保期满前1个月内卖方应负责一次免费全面检查，并写出正式报告，如发现潜在问题，应负责排除。质保期期满后，供应商有义务继续帮助甲方进行维护维修，所产生费用按成本由采购方承担。 （2）项目履约时间为合同签订后5个月内交货