A-货物_A02000000-设备_A02100000-仪器仪表_A02100400-分析仪器_A02100405-射线式分析仪器

随着材料科学及储能研究的发展，X射线吸收精细结构谱XAFS和X射线发射谱技术XES在电池储能、催化剂、环境、化工等研究领域中发挥了很大的作用，通过利用台式X射线吸收精细结构谱仪，研究人员将不再依赖同步辐射光源，在实验室内日常使用XAFS和XES技术研究材料中活性金属元素的化学和电子结构信息，包括氧化态和键共价性(近边区XANES)，以及配位数，电子授体和原子间距等(扩展边区EXAFS)以及电子自旋态（XES）等信息，快速无损表征电池正负极材料、隔膜材料及电解液的化学成分与局域配位结构；1.XAFS测试功能，能量范围不小于5-20 keV。 2. XAFS能量分辨率<1.5 eV (7-9 keV) 。 3. XES能量分辨率<1.5 eV@7-9 keV。 4.XES数据重复性<25 meV能量偏移，无需进行多次单色校正。