A02110204-半导体器件参数测量仪

低频噪声测试系统1台，用于测量在片或封装半导体器件或集成电路的低频噪声特性，如MOSFET、BJT、二极管、电阻等。该系统可进行半导体器件的常规电学参数测试与分析，有I-V（电流-电压）参数、C-V（电容-电压）参数、I-T参数等，也可进行高精度、宽带宽噪声测试，满足高温半导体器件噪声模型开发所必要的大量测试需求，保障制高点专项中高温模拟电路的顺利研制。随着半导体行业的不断发展，晶体管数量的增加，工艺尺寸的缩小，噪声问题变得越来越突出，对半导体器件的性能和稳定性产生显著影响。 噪声模型的提参建模需要对具有多尺寸多结构的多个样品进行噪声测试，测试量巨大，对测试数据的准确性和可靠性要求极高。噪声模型的准确性决定了模拟电路噪声仿真结果的有效性。经课题组调研讨论，京区现有开放共享噪声测试类设备1台，但鉴于制高点专项任务节点要求紧与提参建模测试需求量大，当前测试系统的共享时间无法满足项目对测试机时的需求。为保障制高点专项科研任务的顺利开展，低频噪声测试系统是项目实施所必不可少的重要设备之一。