A02100303物理光学仪器

超结构拓扑光学测量仪， 数量：1套。 该设备用于光学超结构拓扑物态测量研究，实现直径小于500 μm或1 mm- 4 mm超结构的原位、宽谱段的透/反射光场测量、角分辨荧光、透射相位分布测量和远场全息成像测量，并结合操控软件实现焦距、成像分辨率、波相差、泽尼克像差、斯特列尔率、数值孔径、点扩散函数（PSF）、调制传输函数（MTF）、3D光场分布等关键测量指标分析； 技术要求： 1. 微区光场多自由度测量扫描 1.1 透反射显微成像光路，测量波段覆盖400-1700 nm； 1.2 测量模式：至少包括光场扫描（透/反射）、相位测量（可见透射）、全息成像（透/反射）； 1.3 光源：光谱范围至少覆盖470 nm-2400 nm，可见光功率&gt;100 mW； 1.4 微区光场扫描精度 ≤ 3 μm；空间分辨率 ≤ 1 μm@532 nm； 1.5 焦距测量范围：0-22 mm； 1.6 相位分辨率：&lt;50 mrad； 1.7 适配样品尺寸：直径&lt;500μm 或 1 mm – 4 mm；样品台行程：手动XY轴，76 mm×52 mm； 1.8 控制软件：包含相位分布测量、波相差、焦距、数值孔径、斯特列尔率、泽尼克像差、点扩散函数、光学调制传输函数等分析等功能; 2.面阵可见光探测器 2.1 深度制冷硅基探测器，工作波长范围覆盖400-1000nm； 2.2 像元数1024*1024，像元大小13um*13um； 2.3 制冷温度 ≤ -70摄氏度； 2.4 量子效率最高≥90%； 2.5 暗电流 < 0.1 （e-/p/sec） @-70°C。 3. 微区角分辨荧光光谱 3.1 兼容性：需与Ideaoptics公司的显微角分辨光谱系统ARM-EX-PI兼容； 3.2 荧光探测接收波段380-1100nm； 3.3 含长波通滤波片，可实现540-1000nm的荧光光谱采集； 3.4 高精度旋转样品台，旋转角度范围360度，角度最小刻度1度； 交付时间要求：9个月内；交付地点要求：中山大学广州校区南校园； 售后服务要求（含培训）：不少于两年质保。保修期内，厂家接到维修通知，厂家人员应于24小时内响应，如货物在检修36小时后故障仍无法排除，厂家将在最快10个工作日内内更换零配件，修复故障货物。货物的保修期随着检修期的出现而延长，以检修期的双倍计算延长保修期。所有货物保修服务方式均为厂家派员到用户货物使用现场进行保修，保修期内产生的一切费用均由厂家承担。厂家应在交货时同时向用户提供与本设备相符且完整的技术资料，应对用户相关人员进行货物使用培训及日常保养培训。