A02100405射线式分析仪器

波长色散X射线荧光光谱仪（XRF）是一种确定材料成分的大型高精度分析仪器，快速、无损、定性、定量分析材料的元素组成。主要应用领域包括：化学、材料科学、地质勘探、环境监测等领域。厦门大学在建一流建设学科需要购买Rigaku/ZSX PrimusIV 一台。 主要技术参数： 1.工作条件 1.1 电源：380V ± 10%; 220V ± 10%， 50Hz AC， 40A； 1.2 温度：15 – 28℃ ±2℃； 1.3 相对湿度：< 75%； 2.X射线高压发生器 2.1 高频固态式； 2.2 电压≥60KV；电流≥170mA；功率≥4kW； 2.3 稳定性：外部电压变动±1%时，稳定性≤±0.00005%； 2.4 具备电流、电压快速切换功能，遇含量很高的样品时，可自由调节电流或电压， 也可使用衰减器； 3.X射线光管 3.1 电压≥60KV; 电流≥170mA；功率≥4kW； 3.2 铍窗膜厚度：≤35μm，可明显提高Be, B, C、N、F、Na、Mg等元素的灵敏度。； 3.3 照射方式：上照式 （光管从上往下照射样品，避免粉末掉落损坏光管） 4.自动进样器 4.1 外部进样器：不少于48位X-Y-Z机械手进样器（配置等同数量的样品盒，面罩直径包括5mm,10mm,20mm,30mm）； 4.2 样品室内：平行双位样品装载交换，具有预抽真空室和分析室，提高分析效率； 5.光学系统 5.1 准直器：前端后端共不少于5位； 5.2 分光晶体：不少于7块，至少包括LiF（200）晶体、PET高灵敏弯曲晶体、Ge高灵敏弯曲晶体、可测量O-Mg的晶体，以及可分析Be、B、C、N元素晶体）； 5.3测角仪系统 5.3.1、θ-2θ两轴独立驱动测角仪：角度再现精度不大于1/10000°。 5.3.2、测角仪最快转速不低于2400°/min 5.3.3、测角仪最快扫描速度不低于500°/min 5.3.4、10位晶体自动交换机构 5.4 检测器：SC：线性计数率≥1800kcps； FPC: 线性计数率≥3000kcps；F-PC应具有自动芯线清洗机构和气体密度稳定机构； 5.5 具有强度调节机构：可提高5倍以上的线性计数率； 6.真空系统 6.1 样品预真空室和分析室为双真空泵、双真空系统； 6.2 具有APC真空自动稳定系统：真空泵+变频器+真空自动稳定系统； 7.微区分析系统 具有仪器内部样品移动平台:可将微小样品测量位置平行移动到X光强最强处；六位自动视野限制光阑：直径Φ35、30、20、10、1、0.5mm。 8.软件系统包含以下部分 8.1 定量分析功能软件包； 8.2 定性分析功能软件包； 8.3 无标样分析软件包； 8.4 定角度分析和定精度分析功能； 8.5 薄膜分析软件包；