A02100699其他试验仪器及装置

技术指标：主要包括源驱动模块、磁场发生模块、低温控制模块、超连续谱光源、任意波形发生器、光电延时模块、特制样品台、共聚焦光学系统、控制及信号处理模块、高灵敏度高速相机等核心模块等。温度测试区间为室温到77 k，有望实现低至4 k 的测试温度区间；通过光路切换结构设计实现偏振光和自旋器件的测试；实现强度高到0.5G 的磁场控制条件；具备器件全角度信号收集特性，不同方向光的收集效率≥80%。光学测试方面的指标：光谱测试范围：200-1900 nm，光谱分辨率：0.06 nm。电学测试方面的指标：±200V/1 A 量程，最高20 W 输出功率，最小30 fA 电流测试精度，30 uV 电压测试精度，四象限操作；瞬态测试，任意波形输出，最高采样频率1.8 MS/s，10 μs。全方位偏振测试：系统支持360°偏振光电信息的采集和分析，及圆偏振发射不对称因子的评估。