A033499其他专用仪器仪表

背光器件分析测试系统，1台。光量子器件是支撑光量子信息传输和处理的基本单元，是光量子系统的关键组成部分。由于其高精密的特性，器件内部的损耗等结构特性对其性能具有决定性影响，需相应的测试手段支撑其研发和使用。本测试系统可在亚毫米量级的空间分辨率上，测得器件内部不同位置的损耗、反射、偏振等光学参数，用于分析光波器件内部的物理缺陷及其对器件性能的影响过程，是支撑光量子和光波导集成器件生产、研制全过程的必备设备。 因此，本测试系统对于光量子器件的研究具有重要意义，是本学科平台的重要支撑。对于光量子器件的高精密测量，也同步催生量子测量技术的发展。该测试系统可面向社会提供公共测试平台和环境，具备可观的开放潜能和社会效益。