A02110101数字仪表及装置

光电流成像与荧光寿命综合系统）， 数量：1套。 该设备用于测试二维材料的化学结构与光电流转换之间的相关性，实现空间分布的快速成像，并可扩展实现材料空间的偏振特性与光电流特性相关性，及高低温原位下材料结构与光电转换特性变化的空间分布成像。； 技术要求：（1）快速显微光电流及光谱成像系统一套，系统主要由激光器、光学显微镜、光谱探测系统和 光电检测系统组成。 配置1-3个激光器（488/633nm等）光谱仪焦长≥ 300mm。 高灵敏度近红外专用光谱仪，光谱仪内无任何反射镜损耗信号。 光电探测系统：光电流空间分辨率≤500nm（常规 100X 物镜） （2）光学显微镜可完全放置在无水无氧手套箱内，可实现无水无氧环境下的共聚焦光谱及光电 流测试。 （3）激光器、光谱检测系统及光电流检测系统放置在手套箱外，光纤耦合保证系统光路具有高 稳定性，不受手套箱操作的振动影响。 （4）附件：配置 1800x1200mm 阻尼隔振光学平台。配置外接光路耦合附件用于光电流等测试，光纤耦合输入（FC 接口），可外接光源 范围≥350nm-1100nm。配置全自动偏振附件，包括激光光路和信号光路自动偏振测试。 交付时间要求：2023；交付地点要求:中山大学广州校区；售后服务要求（含培训）：保证安装到位，至少2年整机保修，3人次以上培训。