A02100304光学测试仪器

原位LEIPS低能反光电子能谱提供原位XPSUPSIPES分析，具有可靠全面的半导体分析能力，特别是由于低能反光电子能谱对有机材料损伤小，它能分析有机分子材料的HOMO和LUMO等信息，这是传统X射线光电子能谱（XPS）不具备的。原位的LEIPSUPSXPS系统可确保测试分析在同一真空环境，同一分析位置进行，成分分析（XPS）， 价带（UPS）和导带（LEIPS）数据更可靠，数据之间的关联性更合理。通过提供原位变温、加电压测试模式，能够测量材料在高低温、加电时相应物理量的变化；提供低能模式，对有机分子材料几乎没有损伤，能无损探测有机分子材料的能级相关信息。