A021003光学仪器

主要功能： 1、粉末、薄膜、小块样品的晶型分析 2、薄膜样品的晶格参数、异质结构的应力和应变，位错密度的测量和分析，多晶薄膜的平行光掠入射物相分析及反射率分析等。 主要技术指标 1X射线发生器和机柜： 1.1 最大输出功率：4 kW 1.2 最大输出电压： 60kV 1.3 最大输出电流：100mA 2金属陶瓷X光管： 2.1 最大功率:1.8 kW (Cu靶) 2.2最大管压：50kV (Cu) 2.3最大管流：55mA (Cu) 2.4焦斑：12x0.4mm长细焦斑及点焦斑 3 测角仪: 3.1 扫描方式: ？/？方式，样品水平放置 3.2 角度重现性：<0.0002 度 3.3 最小可控步长：0.0001 度，可以停止在任何规定角度 3.4测角仪半径：240mm 3.5光学编码：直接光学定位（DOPS） 3.6马达驱动：直流马达 4.入射光路光学模块 所有光学模块和样品台均采用Pre-FIX预校准技术，切换模块无需重新校准。 4.1 BBHD高性能粉末衍射入射光路模块 入射光路高性能准单色光学模块，用于高质量粉末衍射，提供高强度K-alpha发散光，去除白光和K-beta，K-beta残留小于0.2%，能量分辨率450 eV，衍射图谱背景更低，衍射峰强度更高，对微量物相检测灵敏度更高。 4.2 平行光反射镜 多层膜人工抛物面晶体，将发散X光转化为高强度平行光束，耐空气腐蚀，无需封闭处理，可长期稳定使用。适用于铜靶辐射，用于多晶薄膜物相、纳米薄膜反射率等分析。 4.3 平行板准直器 衍射光路独立光学模块，取光角≤0.27度，用于多晶薄膜物相分析、织构分析等应用。 4.4 Hybrid混合单色器 入射光路独立光学模块，提供高强度K-alpha1单色平行光，最大直射强度≥4*10^8 cps，光束发散度≤26弧秒，用于氧化物等不完美外延体系薄膜高分辨衍射分析。 5. 样品台 5.1 标准平板样品台 5.2 五轴欧拉样品台 (Chi-Phi-X-Y-Z)： Phi轴范围360？,Chi轴范围96？。样品体积：直径80mm,高度16mm。 X轴：54mm，0.01mm； Y轴：54mm，0.01mm； Z轴：12mm，0.001mm； 载重500g 5.3 HTK16N原位高温样品台 奥地利安东帕公司HTK16N样品台，温度范围：室温－1600度；加热方式：直接加热（Pt）。样品台配有预校准接口，切换前后无需人工校准。样品台接口具有程控Z轴功能，可随温度变化自动调节样品台高度，确保样品上表面始终处于测量基准面，排除样品支架热膨胀高度漂移引起的衍射数据角度漂移。 6.探测器。 7.软件等，具体以采购文件为准。