A02100304光学测试仪器

光波元件分析仪1台，能够用于表征光电网络的幅/相频特性，主要应用于高速电光芯片（强度调制器、直接调制激光器、调制器芯片）、光电芯片（APD探测器芯片、二维材料芯片）及光光芯片（微环谐振腔芯片）的带宽、幅/相频、群时延等频响参数的测试。应具备如下功能：（1）电电/电光/光电/光光测量功能；（2）3dB带宽测试功能；（3）频率响应测试功能；（4）输入阻抗和输出阻抗测试功能；（5）相位测试功能；（6）具有一键录制运行功能。能够实现各类光电子芯片的带宽测试，解决当前分立式试验系统存在的校准困难、测试效率低下、测试重复性低等难题，满足我中心高精度、快速高效的光电子芯片频响参数测试难题。