A02100305-电子光学及离子光学仪器

软x射线-EDS-EBSD-联合分析系统能够在高分辨率电子光学系统上获得材料的微区形貌图像的基础上，结合电制冷能谱仪确定材料的微区成分信息，通过电子背散射衍射（EBSD）得到微区晶体结构信息，通过软X射线谱表征微区的原子价态信息，实现极佳谱峰剥离能力和包括Li在内的轻元素探测能力，在材料图像、成分及化合价方面实现高分辨率、高灵敏度、高效分析，真正实现材料微区形貌-成分-晶体结构-化学结合态等多位一体的观察和分析，部分替代透射电镜和XPS的功能。适用于各类材料微观组分和结构信息的深层次分析和反应机理研究，尤其擅长沥青等含碳、氮轻原子复合材料或高分子材料的形貌与成分表征。