A02100414多种原理分析仪

拟采购一套集诸多样品制备表征功能于一体的综合系统。通过集成磁控溅射、分子束外延（MBE）和氧化物分子束外延（OxMBE）技术，能够制备出具有极高纯度和精度的薄膜材料，满足对新材料的探索和开发的精密且可控的薄膜制备技术要求。另外，集成场发射扫描电子显微镜、X射线光电子能谱（XPS）、低能电子衍射能谱（LEED）、俄歇电子能谱（AES）、原子力显微镜（AFM），能够从结构、电子和化学态多个维度提供全面的分析手段。设备之间通过超高真空直线互联系统，能够实现从材料制备到表征的全流程无缝衔接，确保样品始终处于超高真空环境中，避免外部污染对实验结果的干扰。提供测试培训和不少于2年内的免费维保。