采购内容:X射线粉末衍射仪；主要功能或目标:要求能够精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性定量分析，薄膜材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析，结晶度分析、晶体结构分析、晶胞参数计算和固溶体分析，微观应力及晶粒大小分析，微区分析、宏观应力分析、织构分析，以及高低温原位实验，同时保证数据具有科学可靠性；需满足的要求: 1. X 射线光源 1.1 X 射线光管：Cu靶，玻璃或陶瓷光管，功率≥ 1.8 kW； 1.2 焦斑大小：≤0.4 x 12 mm；光管本身可以完成点线焦斑切换，且切换无需校准光路。2. 测角仪2.1 2θ转动范围:-10°~+160°，测角仪半径：≥240mm；2.2角度重现性：≤±0.0001°；2.3最小可控步长：≤0.0001°。3. 探测器3.1工作方式：至少包括0维和1维，测量及切换时无需手动更换硬件；3.2 一维模式探测器通道个数：≥192个；3.3有效面积：≥ 196mm2；3.4最大计数率：≥ 2×108 cps；3.5 99%线性范围：≥ 4×107 cps；3.6 能量分辨率：≤ 20%； 3.7最小像素尺寸：≤ 75 μm；3.8背 景：< 0.5cps；3.9去荧光能力：可有效去除Fe、Co、Ni、Mn等元素的荧光背底（Cu靶）。4. 光路部分 4.1系统可以自动判断测试时需要更换的组件和测量条件，并自动对光路、样品位置进行调节；4.2所有光学附件智能芯片识别、自动精确定位，更换附件时不需关闭设备电源；4.3采用全光路自动狭缝系统：包括自动防散射狭缝、自动发散狭缝、自动接受狭缝；4.4提供聚焦光路和平行光路两套系统，平行光路采用平行光反射镜加平行光索拉狭缝组合。5. 织构及应力附件。6.高低温原位样品台，变温范围：室温~1200℃。7. 应用软件7.1 物相检索软件：含原始数据直接检索功能；7.2 全谱无标样全定量分析软件粉末数据指标化、结构精修、结构解析以及无标样定量分析；7.3 专业织构和残余应力分析软件、小角散射分析软件；薄膜反射率测试分析软件；7.4 提供正版数据库，所有软件和数据库可终身免费在线更新。8.质保期：5年。 联系人：高老师15991262955。

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