A033499其他专用仪器仪表

光学元件参数综合测量仪，1台。现有光学元件参数测量设备原理不同，方法各异，参数测量基准不统一，制约了精密光学元器件设计、研发和制造。采购的本仪器设备可实现光学元件面形、焦距、厚度等多参数共基准、高精度综合测量，可推动我校精密光学成像与检测方向研究，为我校承担的国家重点研发计划等重大科研任务提供测试设备；作为综合测量设备，为精密光学元件和系统参数测量提供体系化测量，促进光学测量、光学系统设计等方向原创性成果产出，并作为高端专用仪器向企业和研究所开放，促进我国高端光学器件和仪器产品研发生产。 该仪器还可服务我校量子重点实验室建设，为量子探测研究方向的前端光路设计和研发提供多参数综合精确测量技术和设备保障。