热学式分析仪器

1.主要用于大尺寸晶体生长后热导率的测量，为大尺寸高光学质量晶体的生长参数优化提供必要参数。此外激光应用验证单位还需要根据晶体热导率参数设计晶体元件的尺寸及冷却系统参数，最大程度地有利于晶体元件在激光运转过程中的散热，提高晶体的激光性能。 2.本采购标数量1台，该闪射法热导率测试仪可以广泛应用于包括晶体、金属、陶瓷等领域，测量温度范围宽（RT-1250℃），热导率测量范围可达0.1-4000 W/(m*K)。该方法是非接触式与非破坏式的测量技术，具有样品制备简易，所需的样品体积小，测量速度快，测量精度高等众多优点。因此，该设备能够非常好地满足大尺寸高质量晶体生长参数优化及激光器参数设计的要求。