A02100304光学测试仪器

为光量子芯片与激发光源和信号探测系统提供耦合平台，激发光源通过光纤耦入光量子芯片中，产生的信号由光纤耦出到探测系统中。全自动、高精度的位移装置确保光纤与光量子芯片精确对准。温控系统确保在激光作用下芯片的热稳定性。 数量：1套。 技术要求： 1) 光学对准重现性＜0.1 dB；自动对准后插损值和芯片实际插损相比较的偏差＜0.1 dB。 2) 具有红外初始光搜寻和光斑模场观测功能。 3) 六轴全自动耦合，自动功能至少包括大范围搜光、通道自动平衡、功率峰值搜索与回位。 4) 输入输出端XYZ轴每轴行程≥20mm，最小步距≤0.01um(10nm)，双向重复性≤0.15um，最大速度达25mm/s，移动角偏摆≤100urad。 5) 可实现电动和手动模式操作，调节位置。且在手动操作模式时，可以直接手动调节线性电控微调台上的旋钮，能够实时更新当前绝对位置。 6) 输入端、输出端的TxTyTz轴角度行程≥15 degree，最小步距≤0.003 degree，双向重复性≤±0.005 degree，旋转中心为一点。 7) 配有温度控制器。温控精确度≤0.01℃，温控范围-20~120℃；稳定性 ±0.1℃

交付时间要求：2023年3月前 交付地点要求: 哲生堂 售后服务要求（含培训）：提供不少于1天的仪器安装以及使用培训。