其他分析仪器

原位X射线衍射，1台 设备要求： 1 X射线光源 1.1 高压发生器最大输出功率：≥3kW 1.2光管类型：Cu靶，陶瓷X光管 1.3光管最大功率：≥2.2 kW 2测角仪 2.1采用光学编码器技术与步进马达（或者直流马达）双重定位 2.2扫描方式：theta/theta 立式测角仪，样品水平放置 2.3可读最小步长：0.0001度 2.42θ转动范围：-110度～168度（根据附件） ★2.5 测角仪半径：≤280 mm，入射光半径和衍射光半径均连续改变 3探测器 3.1 一维模式子探测器个数：≥190个； 3.2子探测器大小：≤75μm； 3.3 探测器整体背景噪音：< 0.1 cps； 3.4 能量分辨率：探测器本能量分辨率（无需在光路上使用任何类型的镜子、滤波片或者单色器的情况下）小于400eV（相对于 CuKa能量分辨率优于5%），能去除荧光，降低背景，降低检出限。 3.5所有子探测器全好，具有静态扫描功能。 3.6 适合Cu、Co、Cr、Mo、Ag等波长 4光路部分 4.1 所有光学附件均采用模块化设计，采用无工具安装、拆卸方式。 4.2 配置自动狭缝系统。 5样品台 5.1标准样品台 5.2电池原位分析附件 5.2.1电池原位分析附件，带充放电及升/降温功能 5.2.2电池原位分析附件温度范围：-30oC-80oC，在用户提出要求时，投标商必须提供国内现有用户进行此项指标验证。 5.3 小角附件 5.4研磨、压片附件 5.5原位高温系统： 5.5.1温度范围：室温-1200度 5.5.2控温精度：±0.1K 5.5.3配置真空系统 5.6 原位低温系统： 5.5.1温度范围：-190度~600度 5.5.2控温精度：±0.1K 5.5.3配置液氮系统 6.仪器控制和数据采集系统 6.1数据处理：背景、平滑、扣除Ka2、寻峰、积分、自定义打印模板等等。 6.2物相检索：含原始数据直接检索功能；单峰和多峰检索。 6.3物相定量相分析：RIR、结晶度、无标样定量分析、内标法等多种定量方法。 晶粒大小及微观应变 6.4全谱拟合功能：Rietveld结构精修、结构解析。 6.5数据库：最新正版数据库 7. 冷却系统：满足相应系统连续满功率运行 8. 稳压电源：功率≥10kVA

欢迎供应商提供相关产品或服务信息，产品资料可发送至华南理工大学招标中心联系邮箱：zbshb@scut.edu.cn，邮件标题：“*****采购意向推荐产品”。