A02100304光学测试仪器

光芯片自动耦合升级的扫谱系统，数量：1套。该设备用于：光芯片测试实验中光谱扫描测试，要能结合现有光芯片自动耦合系统进行高速扫谱自动测试；技术要求：1）具有宽光谱范围的快速扫描功能，完成IL插入损耗及PDL偏振相关损耗测试，2）扫谱软件可嵌入耦合软件，完成耦合后一键进行扫谱测试，3）可扫描波长范围：1500-1630 nm，1260-1360 nm，4）波长精度：±20pm，5）扫描速度：1-200nm/s，6）输出功率：≥7dBm，7）配置4通道光功率计及框架，）配置可变角度高清成像镜头，可在垂直方向、水平方向和倾斜角度方向观测；交付时间要求：签订合同之日起3个月以内；交付地点要求：送货到采购人指定地点，并结合实验室现有自动耦合系统进行安装升级继而验收；售后服务要求（含培训） ：培训至少3名设备使用人员一天。