A02100405射线式分析仪器

纳米级高分辨三维X射线显微成像系统在材料科学领域，尤其是介孔材料、储能材料的新兴测试手段，可在无损情况下对材料样品内部的真实三维结构信息进行表征，获得孔隙、掺杂颗粒、纤维等的三维分布情况，可针对特定研究对象进行相关定量分析，如体积、密度分布、孔隙率、孔径分布、壁厚分布、比表面积、分形维数等。此外，还可利用该设备获得样品微观结构的数字化模型，用于后续数值模拟研究工作。该设备配合相关仪器设备可构建多功能测试系统，用于实验对象的机理研究。