A02100405射线式分析仪器

本项目拟采购原位表面微探针分析平台1套； 采购用途：提供原位XPS/UPS/IPES/SAM/REELS分析，用于分析材料表面的元素成分、元素化学态，能带宽信息以及纳米级微观形貌，同时通过溅射离子枪可对材料进行纵向深度分析。采购货物需满足以下要求：X射线光电子能谱（XPS）具备强大微区分析能力，且可以进行二次电子成像；紫外光电子能谱（UPS）用于价带谱，功函数测试；反光电子能谱（IPES）用于导带谱、LUMO测量，结合UPS可以得到能带宽等完整信息；扫描俄歇能谱（SAM）最小空间分辨率90nm，可进行高分辨二次电子成像，材料表面元素成分分析, 俄歇线扫描，面分布等；反射电子能量损失谱（REELS）可以测H元素。