A02100403热学式分析仪器

近年来，材料产业发展迅猛，高分子材料、复合材料等新型材料相继出现并得到广泛应用，给社会发展和人类生活带来了巨大改变。尤其是薄膜材料，由于其厚度小，对声子散射，使得薄膜材料的热性能与块体材料相比，存在较大差异。相同的材质，我们所熟知的块体材料热性能参数都将不再适用于薄膜，需要重新检测，故对薄膜材料的性能进行检测显得尤为重要。 薄膜热导率测试系统TCT立足于微/纳米尺度薄膜材料热导率的测量，是一款适合于测量薄膜材料尤其是针对微/纳米尺度薄膜材料热导率测量的高性能科学仪器，兼具薄膜材料和厚膜（块体）衬底材料热导率的测量能力。薄膜热导率测试系统TCT技术处于该行业发展的领先地位，可以辅助薄膜材料热输运性质的研究，同时可以弥补微/纳米尺度薄膜材料热导率测量领域市场上的空白，具备极大的前景与优势。 目前能够测试纳米薄膜热导率的设备仅有几家，能够进行面内热导、二维材料热导、纳米线材料热导的设备就几乎没有。现在市面上能够测试纳米薄膜热导的有耐驰公司的NanoRT/PicoTR，但该设备仅能测试薄膜的热扩散系数，需要材料的热容和密度数据才能得到热导率，而且该设备需要激光附件，结构复杂，价格昂贵。由武汉嘉仪通科技有限公司自主研发的TCT-3薄膜热导率测试系统，设备构造简单，功能多样，能够测试纳米薄膜（法向和面内方向）、二维材料和纳米线等的热导率，是微纳低维新材料性能研究的得力助手，2018年该产品还通过以张联盟院士为组长、清华大学潘峰教授为副组长的一批知名专家团队的成果鉴定，并已经成功应用到中科院上海微系统与信息技术研究所、华中科技大学、中国工程物理研究所、国家石墨烯质检中心（广州）、武汉大学、广州大学、嘉兴学院等