A02100206测磁仪器

微观磁成像测量系统， 数量：1套。 该设备用于低温矢量磁场下进行微弱磁信号的纳米级成像及观测（用途）；技术要求：设备包含 1. 微纳扫描系统 精细扫描范围不小于(4K)：10 * 10 um2 (300K)：40 * 40 um2 精细位移分辨率优于：1 nm 粗调范围(300K)不小于：4 * 4 mm2 2. 磁成像系统 探测探头配合搭配AFM探针、MFM探针、NV探针独立使用，配合低温腔体使用. 实现原子力、磁力、金刚石色心微纳磁探测、成像功能。AFM/MFM扫描时空间分辨率x,y方向优于40nm；z方向优于1nm；NV色心扫描磁成像空间分辨率：10-30 nm，定量测磁分辨率1μT/√Hz。 微波系统输出频段：0.7 – 4 GHz， 微波输出功率不小于10 W，光学系统： 激发光波长稳定520 nm 正负不超过10nm； 激发光功率不小于10 mW，单光子探测器探测波段：200-1060nm，脉冲控制系统： 时序精度不大于2 ns，最小脉宽不大于7.5 ns，优于脉冲个数不少于107，通道数不少于8个。 3、无液氦干式制冷低温系统 温度范围：不小于4.2 K - 300 K (样品座处)，制冷功率：不小于1.0 W @ 4.2 K (二级冷头), 40 W @ 43 K (一级冷头)，冷却循环水：不少于6 - 9 升/min @ 5-25 ℃，温度控制：优于+-0.025K 4K（样品）变温匀速VTI（升温） 4、磁体系统 三维矢量磁场：X,Y,Z=9T, 1T, 1T;磁体带超导开关，三个方向可闭环运行；磁场均匀性：X,Y方向？0.5%@10mm，Z线圈均匀性（9T磁体）： 0.065%@10mm；0.26%@20mm；（0-peak）可以有稳定变场速率：单轴z变场最大速率：不低于0.003-0.005T/s（0~9T，50~60min），三轴变场最大速率：不低于0.003T/s； （0~1T，45~60min）。可以稳定连续扫场24小时； 5、探针，带NV色心的金刚石探针：4根，AFM探针5枚，MFM探针5枚 6、输运测量杆 旋转测量杆：旋转范围：-5°-365°，步进间距优于0.01°；电学通道：24通道，校准温度区域1.5 K-320 K ； 配备国产xyzr四轴低温压电位移台及控制器； 可光纤引入样品端， 12路直流电学通道；校准温度区域1.5 K-320 K； 8、控制系统 配电脑和控制软件。探针品质自动测试、光路自动调节、弛豫时间成像、连续波谱成像、荧光扫描和形貌成像、自动漂移校准功能、实验结果参数拟合和全数字化仪器控制，自动控制VTI和磁体系统实现固定速率的温度，磁场控制，兼容labview。 交付时间要求：中标完成后12月内。交付地点要求:中山大学南校园哲生堂一楼116 售后服务要求（含培训）： 免费运送安装。免费整机保修2年，磁体变温系统保修3年