A02100304光学测试仪器

微区时域与频域测量系统，数量：2套。 该设备主要功能：用于测量微纳体系的时域与频域光学综合测量，计划购买2套，用于搭建从可见光到近红外区间的光学测量平台，完成暗场散射、透射、反射、光致发光、荧光寿命、载流子动力学等物理性质的测试和片上集成的量子光电子集成器件性能、耦合效率的测试；实现对于微纳系统中光子-电子、光子-光子、光子-声子相互作用等基本物理过程的研究。 技术要求： 1）能够实现微区暗场散射、透射、反射、光致发光以及荧光寿命测量； 2) 光致发光与寿命测量需要实现单光子量级的灵敏度； 3）具有三维高精度定位功能，xyz三维步进精度小于等于分别是0.01μm，0.01μm，0.02μm； 4）荧光寿命测试时间分辨率小于等于50ps，瞬态光谱最小分辨率小于等于200fs。

交付时间要求：2023年3月前 交付地点要求:中山大学南校园哲生堂； 售后服务要求（含培训）：免费使用培训，免费保修两年。