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中国科学院微电子研究所2026年7月政府采购意向-光学膜厚仪 详细情况

2026年04月28日 09:26 来源: 中国政府采购网 打印

光学膜厚仪
项目所在采购意向: 中国科学院微电子研究所2026年7月政府采购意向
采购单位: 中国科学院微电子研究所
采购项目名称: 光学膜厚仪
预算金额: 1000.000000万元(人民币)
采购品目:
A02110205集成电路参数测量仪
采购需求概况 :
用于集成电路制造工艺中氧化、CVD、PVD、ALD、光刻、刻蚀、CMP等关键工艺的薄膜参数在线厚度监控需求。该设备可对SiO?、SiN、SiON、SiCO、APF、a?Si、High?K、金属栅等各类单层/多层薄膜的膜厚、复折射率(n&k)、反射率、薄膜应力进行稳定、高精度、高产能量测
预计采购时间: 2026-07
备注:

本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。