A02100405射线式分析仪器

电子探针X射线显微分析仪，是指以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线，并根据X射线的波长和强度，对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理仪器。电子探针技术具有操作迅速简便、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点，在冶金、地质、土壤、生物、医学、考古以及其他领域中得到日益广泛应用，是土壤和矿物测试分析和样品成分分析的重要工具。因此，预采购一套电子探针显微分析仪。 技术参数： 1、电子光学系统 1.1电子枪灯丝：肖特基发射体 1.2加速电压：0.5～30 kV（0.1kV步进。5kV 以下可以10V 步进设定） 1.3二次电子像分辨率：3nm（加速电压30 kV，分析位置） 1.4二次电子像分辨率：20nm（10nA@10kV），50nm（100nA@10kV），150nm（1μA@10kV） 1.5物镜光阑：不需要切换 1.6电子束快门：OPEN/CLOSE（CLOSE时可测量束流） 1.7最大束流：3μA（加速电压30 kV） 1.8束流稳定度：±0.3%/h（50nA@10kV） 1.9：放大倍率：40倍～400,000倍（WD = 6.35mm，分析高度） 售后服务： 1仪器到达最终用户现场后，在接到用户通知一周内，卖方安排有经验的工程技术人员到用户现场安装、调试，按验收指标逐项测试至到达到验收要求；仪器的安装调试需在接到用户通知后30日内完成。 2技术培训：仪器安装调试合格后，卖方工程师在买方现场对买方人员进行操作及日常维护培训，直到买方人员能独立操作。