A02100405射线式分析仪器

拟采购高分辨率X射线三维显微镜1台，用于样品三维成像和晶体取向高通量一体化表征，在无损情况下直观地展示样品内部不同密度的微观结构、内部孔隙、微裂纹以及多晶材料的三维晶体结构等三维结构成像，还可用于拓展到受控环境（应力场等多物理场耦合）下的材料结构的4D原位分析。 主要参数需满足：1.最小可实现的体素 (voxel) 优于40nm，空间分辨率（spatial resolution）优于500nm（需提供实际样品的测试结果）；2.可实现多晶材料的三维晶体结构全面表征，提供从大样品体积、大量晶粒数目的统计分析到局部单个晶粒和晶界的全面3D微观结构分析。 卖方需提供的服务：接到用户安装通知后，48小时内安排技术人员上门安装调试直至达到验收指标，所有安装、调试工作自带必要的专用工具，安装、调试及所派人员的一切费用由卖方承担。仪器应用、实验设计、数据分析、故障诊断等几个方面长期提供及时的支持与服务。提供仪器终身培训支持、在接到采购人的故障信息或者需求信息后，24个小时内响应。